论文部分内容阅读
在某些情况下斯特林制冷机采用间歇式工作方式，以延长卫星在太空中的服务年限，因此由斯特林机致冷的低温半导体器件如HgCdTe中长波红外探测器会经受成千上万次从-173℃以下到常温的温度循环，这个过程可能会造成器件的失效．为了研究器件的失效机理和可靠性，帮助筛选器件，本文介绍了一种自制新型的温度循环实验设备，型号TCE-a．经过数千次温度循环，设备满足器件筛选实验要求。