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对于AC-DC电路测试，圆片测试（CP）一般采用开环测试的方法，测试项目较少，从而使CP的测试时间大大减少，提高了测试效率以及测试产能。CP测试的目的是测试基准电压以及输出波形等参数，并对相应参数进行工艺上的修调，使得这些参数达到中心值，保证芯片基本功能的准确；但CP测试并不是应用环境下的芯片状态，所以当AC-DC电路进行成品测试（FT）的时候，通过模拟芯片的应用环境来测试芯片在应用端的参数，从而确保芯片在工作环境中能正常应用，达到检测芯片的目的。主要介绍了AC-DC电路在闭环应用环境下各项参数的测试方法