薄片PIN探测器及其阵列的灵敏度和上升时间测定

来源 :信息与电子工程 | 被引量 : 0次 | 上传用户：wumingwuming2009

【摘要】

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利用CΓC67实验装置测量了薄片PIN探测器及其二元和三元阵列的低能(射线灵敏度和上升时间.实验证实,三元阵列灵敏度比单个探测器提高到近3倍,但上升时间也随之增大到近2倍.

【作者】

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【机构】

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中国工程物理研究院

【出处】

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信息与电子工程

【发表日期】

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2004年1期

【关键词】

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