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探讨了对某工业级DDS零部件抗单粒子锁定电路稳固规划原理,对体硅CMOS器件单粒子锁定道理进行详细的阐述,并对立单粒子零部件创造工艺、锁定指标及电路防护设计方案等进行探讨。进行了单粒子锁定辐射检验测验。测验成果显示,用实时检测器件供电电流来操控器件断电并重新开启的保障方案对抗单粒子锁定的真实有效性。