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X 射线机是工业 CT 中使用最广泛的 X 射线源，但因阳极效应以及自身结构的限制，其射线强度空间分布不均匀，系统的研究和测量其射线强度分布对于实际应用十分必要。利用 CsI(Tl)光电二极管探测器测量了射线强度在不同轴线上随角度的分布，给出了理论分析，并与蒙特卡罗法计算结果做了对比，提出了“展宽效应”，解释了边界射线强度分布展宽的现象。比较了大、小焦点射线强度分布的情况，给出了其在阴极末端出现差异的原因。结合其在竖直方向的射线强度分布以及对称性，给出了 X 射线强度的二维分布。结果表明，在张角20°(–10°–+10°)的范围内，射线强度分布均匀（最大相对偏差4.59%），张角越大均匀性越差，在阴极端边界射线分布出现外延。