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逻辑簇的边界扫描测试存在一些不可忽视的重要问题。分析了这些问题的影响，提出了相应措施，并介绍了结合BIST技术进行逻辑簇测试的方法。
逻辑簇边界扫描测试相关问题及解决方案
【摘 要】
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逻辑簇的边界扫描测试存在一些不可忽视的重要问题。分析了这些问题的影响，提出了相应措施，并介绍了结合BIST技术进行逻辑簇测试的方法。
【机 构】
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空军第一航空学院航空电子工程系
【出 处】
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半导体技术
【发表日期】
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2006年6期
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