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Uniformity of Electrical Parameters on MCT Epitaxy Film

来源 :半导体光子学与技术：英文版 | 被引量 : 0次 | 上传用户：king95

【摘 要】

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For Hall measurement under different magnetic fields at LN2 temperature,Hg1-xCdxTe (MCT) film (radius 1cm) grown on CdTe substrate by LPE is photoengraved into

【作 者】

：

NIELin-ru MENGQing-lan LINan 

【机 构】

：

CollegeofSciences

【出 处】

：

半导体光子学与技术：英文版

【发表日期】

：

2004年2期

【关键词】

：

MCT薄膜 电参数 Hall测量 外延生长 一致性 MCT film  Hall measurement  Electrical parameter  Unif 

【基金项目】

：

National Ministry of Arms Industry

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For Hall measurement under different magnetic fields at LN2 temperature,Hg1-xCdxTe (MCT) film (radius 1cm) grown on CdTe substrate by LPE is photoengraved into many small Van Der Pauw squares,then their Hall coefficients and mobilities are measured and an

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