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光干涉技术是润滑薄膜厚度测量最有效的方法之一。双色光干涉法在保证较大膜厚测量范围及高测量分辨力的同时，避免了繁琐的干涉级次人工计数。传统的双色光干涉测量依赖于严格的静态标定和观测者。本文提出使用双色光干涉强度调制技术对微纳米润滑薄膜进行测量。通过干涉图像中红、绿分量强度值的线性叠加得到调制信号，根据信号特性分析得到特征位置膜厚，进而由干涉强度得到任一点膜厚。为验证所提出测量方法的正确，对静态球-盘赫兹接触表面间隙进行了测量，与经典理论有很好的一致性。结果表明：选用合适的红绿双色光波长，测量量程可达2μm。