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针对微观晶粒结构演化、尺度效应等微观晶粒结构诱致的电迁移失效问题,本文通过有限元分析软件,考虑焊点不同晶粒结构,对SAC305无铅焊点进行电迁移失效模式分析,进一步探明焊点电迁移失效机制。通过电子背散射衍射(EBSD)对焊点晶粒结构及其取向进行测定和表征,为有限元模型提供依据。采用Bunge欧拉角(φ1,Φ,φ2)来表示晶体的取向。结果表明单晶粒结构焊点正则化原子浓度及其焊点失效寿命在很大程度上取决于晶体取向(特别是Φ角,即晶体c轴取向与电流方向的夹角,该角度表征了β-Sn晶粒绕c轴的旋转)。模拟结果与电