论文部分内容阅读
利用平面和非平面基底，采用垂直沉积法制备了SiO2胶体晶体，采用X射线衍射分析仪（XRD）对颗粒的晶型进行表征，通过扫描电子显微镜（SEM）对粉体的形貌及胶体晶体的结构和排列方式进行测试分析．研究曲面的内径大小及双曲面基底的间距大小对结构的影响规律，对曲面胶体晶体的生长过程进行探讨．结果表明曲面基底有利于胶体晶体结构的有序生长，在适当的双曲面基底间距下，双曲面上所生长的胶体晶体具有更加紧密的结构．