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在高科技领域对数字系统工作的可靠性要求越来越高，因此数字系统的可测试性变得极为重要。要提高数字系统的可测性，解决这一问题的有效办法是从数字系统设计上着手，目前较好的办法是采用结构性可测性设计，而结构性可测性设计中电平灵敏扫描设计法使用较为普遍，也很实用。本文就电平灵敏扫描设计法进行探索。
数字系统结构性可测性设计
【摘 要】
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在高科技领域对数字系统工作的可靠性要求越来越高，因此数字系统的可测试性变得极为重要。要提高数字系统的可测性，解决这一问题的有效办法是从数字系统设计上着手，目前较好的办
【机 构】
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解放军电子工程学院
【出 处】
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国外电子测量技术
【发表日期】
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2006年4期
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