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目的：探明正常Ｈｅ与安氏Ⅱ类１分类（安氏Ⅱ＾１）错Ｈｅ两种不同Ｈｅ型时各牙根尖在ＩＣＰ时的受力情况，以斯揭示咬合类型对咬合力传导的影响规律。方法：采用透明环氧树脂复制以相同牙排列而成的正常Ｈｅ及安氏Ⅱ＾１咬合的下颌模型，２．０ｋｇ垂直加载后，在国产４０９－Ⅱ型投影式光弹仪上观察测量各牙根尖主应力的大小与方向。结果：正常Ｈｅ各牙根尖主应力谢基本均偏向远中舌侧，安氏Ⅱ类Ｈｅ类则更偏向远中颊侧。安氏Ⅱ＾