论文部分内容阅读
随着半导体技术的飞速发展,芯片集成度和性能显著提高,然而电路的可靠性问题却日益突出,并且成为研究人员和芯片制造厂商广为关注的问题.对于面向航空航天应用的电路芯片,空间辐射导致的单粒子效应是影响其可靠性的主导因素.本文比较系统地分析了现有容忍SEU单粒子效应的锁存器结构工作原理,为相关锁存器结构的研究和比较提供依据.