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采用线性组合算符法和幺正变换方法，研究极性晶体膜中束缚极化子的基态能量、自陷能随膜厚d的变化关系。得出束缚极化子的自陷能由两部分组成：第一部分是由于电子-体LO声子相互作用所引起的（E^tre-LO）极化子效应；第二部分则是电子-SO声子相互作用引起的。后者又包含两部分，分别是电子与极性膜中两支表面声子相互作用的贡献（E^tre-SO（＋），E^tre-SO（-））。通过对KCl半导体膜的数值计算表明，E^tre-LO随膜厚d的增加而增加；但是E^tre-SO、极化子的振动频率以及电子-声子相互作用所产生