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安赛乐米塔尔集团印第安纳港厂已经为其镀铝生产线采购了Indev公司生产的最先进的双X射线背散射测量系统。新的测量系统主要用于碳钢表面铝和锌镀层厚度的高精度测量。该系统采用开放架构控制系统进行设计，可以运行在Indev公司GaugeViewTM软件平台之下。新的测量系统计划于2013年末投入使用。