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使用扫描电镜(SEM)、紫外-可见分光光度计(UV-VIS)和色差计分析了一些汝官瓷、仿汝瓷和钧瓷残片。在SEM下,汝瓷与钧瓷的显微结构差异较大,而仿汝瓷的显微结构类似于钧瓷;瓷釉中分相或者析晶导致的Rayleigh散射和Mie散射作用都对其釉色存在贡献;三者显微结构上的差异可用来解释它们反射光谱上的差异。UV-VIS可用于解决“汝钧不分”的问题,并为汝瓷的无损科技鉴定提供了可靠的依据。