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对机载电子设备做可测试性分析是设计ATS的第一步，只有这样才不会在设计过程中无谓地浪费测试资源。本文通过建立各种不同故障类型模拟电路的可测试性分析模型，论述了利用DES理论建立模拟电路可测试性分析模型的基本方法。对模型分析得到的故障隔离率与实际值相吻合。用DES理论建立的模拟电路可测试性分析模型可以与数字、数模混合电路模型在统一的框架中进行可测试性分析，对电路可测试性分析起到一定的作用。