测量高温超导YBCO薄膜厚度的一种新方法

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生长在倾斜SrTiO3 衬底上的YBCO薄膜具有激光感生电压效应 ,响应信号的衰减时间常量与薄膜的厚度有确定的关系 .作出了衰减时间常量与薄膜厚度的关系曲线 ,根据该曲线 ,由衰减时间常量就可确定薄膜的厚度 YBCO films grown on sloping SrTiO3 substrates have a laser-induced voltage effect and the decay time constant of the response signals has a definite relationship with the thickness of the films, and the relationship between the decay time constant and the thickness of the films has been established. According to this curve, Time constant to determine the thickness of the film
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