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研究腔靶辐射温度和X光耦合效率与靶结构及激光辐照条件的依赖关系.利用神光-Ⅱ基频光(波长1.053 μm,能量3～5 kJ/8束,脉宽0.6～0.9 ns)辐照金腔靶.采用软X光能谱仪及平响应探测器分别测量腔靶诊断口辐射X光功率谱及其能量角分布.同时,利用五针孔时、空分辨成像技术对腔靶诊断口发射软X光进行实验观测,给出辐射温度推算中需要的等效诊断口面积修正因子.在北京同步辐射软X光标定站,对上述诊断用软X光探测元器件进行了全谱范围(0.05～1.5 keV)的绝对标定,以提高X光辐射功率和黑腔辐射温度的诊断精度.