二次电子发射对质子束流测量精度的影响分析

来源 :新经济 | 被引量 : 0次 | 上传用户:lblb0628wto
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
由于法拉第探测器所测量的质子束流精度受到二次电子发射的严重印象,因此必须降低或是彻底解决二次电子发射带来的影响,从而提升束流测量精度。依据二次电子的相关补偿原理设计出二次电子补偿模型的同轴探测器,通过实验发现法拉第探测器在测量质子束流的强度过程中难以完成二次电子补偿。为了能够有效改进与创新法拉第探测器的设计,在理论方面分析二次电子造成的束流测量精度的影响。
其他文献
甘油栓制备中存在“出汗”和硬度问题,在中国药典1995年版,BP1993年版收载甘油栓处方的基础上进行进一步实验研究,对处方提出改进意见;并对包装条件进行考察试验,基本上解决了上述问题。为制
在专业无线通信领域,数字集群对讲机是最重要的通信方式。本文针对日本的数字对讲机标准DCR,研究了4FSK调制解调系统中基带信号处理的几项关键技术,主要包括均方根余弦滚降滤