论文部分内容阅读
基于高速数字I/O缓冲器瞬态行为模型计算并优化了CMOS集成电路的同步开关噪声(SSN).简述了用IBIS(I/O Buffer Information Specification)数据文件构造高速数字I/O缓冲器的瞬态行为模型的推导过程,利用序列二次规划法(SQP)对CMOS电路的寄生参数和传输线的主要物理参数进行了优化分析,减小了CMOS电路的SSN.