基于双参数颗粒分析的纹理分割

来源 :光电工程 | 被引量 : 0次 | 上传用户:whp71518255
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
形态学颗粒分析是一种有效的颗粒纹理图像分割方法,但由于单一的颗粒度参数,使得其难以分割如颗粒度相同而空间排列不同的纹理图像,为此提出了一种基于双参数颗粒分析的纹理图像分割方法,该方法将传统的颗粒分析从单一参数扩展到以颗粒度和空间位置为参数的二维空间,使得扩展后的颗粒分析通过分布函数不仅能够提取纹理的颗粒度特征,而且能够获取纹理的空间排列特征,克服了传统颗粒分析难以区分颗粒度相同而空间排列不同纹理区域的问题。仿真实验表明,该方法在运算复杂度增加不大的情况下,纹理分割效果优于颗粒分析法,区域像素错分率低
其他文献
改革开放至今,我国的综合实力已经得到了一个质的飞跃,尤其是对于现代机械制造技术而言,它代表制造业的发展水平,也是整体实力的最好体现,它不但体现着工业技术水平,而且也是
针对光电探测图像序列中的运动弱小目标实时检测问题,提出了一种基于时空域融合滤波的弱目标检测算法。算法在空域上利用形态学Tophm滤波抑制背景增强目标,在时域上通过改进的
精确定位耦合光斑在光纤端面上的位置是空间光与单模光纤耦合技术的关键.提出由压电陶瓷、控制器、驱动器、光电探测器、耦合透镜及反射镜组成闭环控制系统,使用光栅式扫描初
针对衍射光学元件(DOE)的离子束刻蚀工艺,结合掩模套刻过程实例,本文提出了刻蚀误差面形分布的概念。在标量衍射的夫琅和费原理上,进行了误差数值模拟分析及讨论。模拟分析和实验