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相位噪声和杂散性能是制约直接数字频率合成器用于高稳定频率源的关键指标。文中给出了一种全新思维，定量分析了ＤＤＳ中由相位截断引起的杂散谱及由相位截断，ＲＯＭ存储器有限字长和ＤＡＣ性能对其相位噪声性能的影响。
直接数字频率合成器中的相位噪声分析
【摘 要】
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相位噪声和杂散性能是制约直接数字频率合成器用于高稳定频率源的关键指标。文中给出了一种全新思维，定量分析了ＤＤＳ中由相位截断引起的杂散谱及由相位截断，ＲＯＭ存储器有限字长和ＤＡＣ性能对
【机 构】
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成都电子科技大学电子工程系
【出 处】
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电子科技大学学报
【发表日期】
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1999年1期
【基金项目】
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国家“九五”重点科研项目
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