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工业计算机层析成像(ICT,Industrial Computed Tomography)是一种先进的非接触式无损检测技术,具有复杂精密、非通用和高成本的特点,需要根据用户的具体检测需求进行定制开发,以降低系统研发风险和成本.为此,提出并研究了一种基于对比度-细节-剂量(CDD,Contrast-Detail-Dose)函数的ICT系统设计技术框架.据此,推导了扇束三代二维ICT系统基于CDD函数的设计平台,并完成了软件开发.该项技术包括基于CDD函数的计算机辅助设计(CAD,Computer Ai