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本文介绍了有内插法检测诊断Ｘ辐射源中半值层的步骤及其数据处理。通过理论及实验进一步探讨了在采用内插法测量半值层的过程中，当Ｘ射线能谱变化时，内插间距与引入误差的关系，从而得出该方法仅引入计算误差５％。
简便准确的半值层测试方法──内插法
【摘 要】
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本文介绍了有内插法检测诊断Ｘ辐射源中半值层的步骤及其数据处理。通过理论及实验进一步探讨了在采用内插法测量半值层的过程中，当Ｘ射线能谱变化时，内插间距与引入误差的关系，从而
【机 构】
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河南省计量测试所
【出 处】
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计量技术
【发表日期】
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1995年4期
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