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利用25国1996-2009年的面板数据,运用超效率DEA和DEA-Tobit两步法对各国的国家创新效率和影响因素进行了分析.主要发现包括:经济危机对各国国家创新效率和创新全要素生产率均有负面影响,其中技术退步是引起各国全要素生产率下降的主要因素；中国的国家创新效率仍然处于较低的水平,在样本考察期内总体呈现下降趋势,且存在较为严重的技术退步现象；企业、高等院校和科研机构的创新协同是有效率的,三者的创新活动均显著而持续地促进了国家创新效率提高；一国宏观税率对国家创新效率具有拉弗效应,过高和过低的税率均不利于促进国家创新效率.