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提出了一种新的基于发散投影模型的三维面形测量的相位一高度分析算法．它不要求测量系统的投影光轴和成像光轴共面，入射光瞳和成像光瞳连线与参考平面平行的严格条件限制，光源发散投影分析更与实际情况相一致．该模型避免了实际应用中校正双瞳的麻烦以及由于系统装置摆放不精确而造成的误差．使搭建平台更加的方便容易．而且测量过程只需要一帧条纹图，并不需要参考平面的条纹图，使测量更加方便快捷．