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利用激光束斜入到金属板上，再用透镜将激光金属板上的激光光斑成像到ＣＣＤ上，当金属板发生位移时，ＣＣＤ上激光光斑的像也将发生位移。通过对光栅像位移测量，就可计算出金属板的位移量，此法也可推广到金属板的厚度测量中，由于金属板表面反射率变化会对测量带来影响，我们已考虑对此作了修正，此测量方法不但是无接触的，可不受测量对象，不利环境对传感头的影响，故可用于生产过程进行实时监测。