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PTCDA/p-Si异质结势垒区特性理论的研究
PTCDA/p-Si异质结势垒区特性理论的研究
来源 :甘肃科学学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:acecat
【摘 要】
:
有机半导体材料苝四甲酸二酐(PTCDA)是弱p型半导体材料,其载流子浓度为5×1015/cm3,禁带宽度为2.2eV,可与多种材料形成异质结.详细计算了PTCDA/p-Si异质结势垒形成的电势
【作 者】
:
张旭
【机 构】
:
甘肃联合大学数学与信息学院
【出 处】
:
甘肃科学学报
【发表日期】
:
2008年4期
【关键词】
:
异质结
电势分布
电场分布
伏安特性
heterojunction
voltage distribution
electric distribution
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有机半导体材料苝四甲酸二酐(PTCDA)是弱p型半导体材料,其载流子浓度为5×1015/cm3,禁带宽度为2.2eV,可与多种材料形成异质结.详细计算了PTCDA/p-Si异质结势垒形成的电势分布,电场分布和电流-电压(伏安)特性,计算结果与实验结果一致.
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