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微电子器件测试技术（中）

来源 :电子质量 | 被引量 : 0次 | 上传用户：asicsyao

【摘要】

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(接上一期)CPU的测试首先要解决测试程序(测试向量),CPU的功能不同于一般通用数字电路,CPU是在软件的介入下进行工作,而用户在使用CPU的时候也都有自己不同的用户程序,所以要

【作者】

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【机构】

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北京华峰测控技术有限公司

【出处】

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电子质量

【发表日期】

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2005年7期

【关键词】

：

微电子器件测试技术测试向量用户程序 CPU 测试程序数字电路失效模式工作方式

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(接上一期)CPU的测试首先要解决测试程序(测试向量),CPU的功能不同于一般通用数字电路,CPU是在软件的介入下进行工作,而用户在使用CPU的时候也都有自己不同的用户程序,所以要验证CPU的功能是否正常,是否能在各种用户程序下都能可靠工作,所编制的测试向量必须覆盖CPU的各种工作方式和各种失效模式.

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