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基于红外热像仪的微电路模块失效定位方法
基于红外热像仪的微电路模块失效定位方法
来源 :环境技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:cheng1129
【摘 要】
:
本文基于红外热成像技术在小型微电路模块中的应用,采取提高温度阈值、半导体制冷降温、合理电激励等方式改善了红外热成像失效定位效果,提升了失效定位效率,对于微电路模块失效分析工作有实践指导意义。
【作 者】
:
冯慧
尹丽晶
范士海
【机 构】
:
航天科工防御技术研究试验中心,中国电子科技集团公司第十三研究所
【出 处】
:
环境技术
【发表日期】
:
2020年06期
【关键词】
:
微电路模块
红外热成像
失效定位
microcircuit module
infrared thermal imaging
failure location
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本文基于红外热成像技术在小型微电路模块中的应用,采取提高温度阈值、半导体制冷降温、合理电激励等方式改善了红外热成像失效定位效果,提升了失效定位效率,对于微电路模块失效分析工作有实践指导意义。
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