论文部分内容阅读
采用辉光放电质谱法（GD—MS）同时测定了高纯钨锭中66种痕量杂质元素。主要杂质元素（K，Ba等）的测定值与电感耦合等离子体质谱法（ICP—MS）定量分析结果经F检验和T检验均验证在显著性水平为10％时，两者无显著性差异。试验表明GD—MS法对高纯钨锭的无标准样品的快速分析有较高的准确度。与ICP—MS法相比，GD—MS能直接分析固体样品，并具有分析元素多、测定范围广、检测限低、分析速度快等众多优点，已被公认为是最佳的高纯金属痕量杂质元素分析方法之一。