为了探究内隐面孔再认在记忆形成过程中的认知加工状态,该实验以陌生面孔为刺激,采用事件相关电位(ERP)技术,并结合相继记忆(Dm)范式和迫选再认测验,把学习阶段的面孔分为相继记住、相继启动及相继忘记三类,以相继记住与相继启动的ERP差异为外显记忆Dm效应,以相继启动与相继忘记的差异为内隐记忆的Dm效应。结果表明,内隐记忆表现为400~500 ms额中央区负走向的Dm效应,可能反映了额叶皮层对信息的精加工过程,而外显记忆表现为400 ms开始顶区正走向的Dm效应,可能反映了记忆系统对加工后信息的自动登记过程。由此推测,只有经过额叶加工并被内侧颞叶自动登记的信息,随后才能被有意识地提取出来,而未进入内侧颞叶的信息在随后测验中不可能产生有意识地记忆提取现象,但储存的知觉表征可能触发微弱的记忆痕迹,从而产生内隐面孔记忆。