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对单端口SRAM常用的13N测试算法进行修改和扩展,提出了一种适用于双端口SRAM的测试算法.该测试算法的复杂度为O(n),具有很好的实用性.作为一个实际应用,通过将该算法和13N测试算法实现于测试算法控制单元,完成了对片内多块单端口SRAM和双端口SRAM的自测试设计.
一种改进的嵌入式SRAM内建自测试设计
【摘 要】
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对单端口SRAM常用的13N测试算法进行修改和扩展,提出了一种适用于双端口SRAM的测试算法.该测试算法的复杂度为O(n),具有很好的实用性.作为一个实际应用,通过将该算法和13N测
【机 构】
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中国科学院声学研究所
【出 处】
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微电子学
【发表日期】
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2003年3期
【基金项目】
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国家重点基础研究发展计划(973计划)
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