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为提高时序电路的测试生成效率,该文提出一种新的基于蚂蚁算法和遗传算法的时序电路测试矢量生成算法。针对国际标准时序电路的实验结果表明,该交叉算法既充分发挥了两种算法的优点,又克服了各自的缺点, 与其它同类测试生成算法相比,获得了较好的故障覆盖率和测试集。说明采用蚂蚁算法和遗传算法的交叉算法是成功的。