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“透明”的可编程内建自测试相关论文

用于存储器测试的“透明”的可编程BIST方法

本文提出了一种用于存储器测试的新方法：“透明”的可编程BIST方法。该方法可以覆盖几乎所有的故障模型，并且，由于测试生成算法和数据......

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存储器 “透明”的可编程内建自测试算法故障模型 memory transparent based programmable BIST algorithm

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