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内建自测试(MBIST)相关论文
GPS基带芯片中存储器的可测性设计
GPS基带芯片中嵌入的存储器采用存储器内建自测试(Memory Built-in-Self-Test,MBIST)技术进行可测性设计,并利用一种改进型算法对......
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基带芯片
可测性设计(DFT)
内建自测试(MBIST)
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