探针台相关论文
随着信息时代的蓬勃发展,诸如物联网、大数据、人工智能之类的新兴信息科技对海量的数据收集与分析的需求日益增大,因而对现存的数......
本文设计了基于PC的探针台数控系统，该系统采用PC+电机控制卡+图像采集卡的形式构建。 本文提出了针对探针台系统的数控软件的设......
摘 要： 为控制测试成本，提升测试效率，系统阐述多SITE测试必备的硬件和软件资源，相关设置及多SITE打点错位故障问题的解决方案，在此基......
探针台是半导体芯片测试的高精密仪器,可以连接测试仪,分选出晶圆里面的不合格芯片,减少后续工作的加工耗费。随着半导体行业的不......
为了进一步研究贴片元器件性能,介绍了一种基于探针台的测量系统。该系统包括上位机界面控制和下位机测量系统控制。上位机界面是......
提出了一种硅片传输系统的预对准算法，根据线阵CCD采集的边缘电压数据并结合机械手的固有特性，计算出圆心坐标和切边位置，实现硅片的......
消费性电子的兴起,衍生出对更小的装置、更小的封装,以及更低成本的需求市场;同时对于复杂装置结构的接脚效能和硅材I/O的使用效率......
介绍了一种便携式探针台,其结构小巧,功能实用,成本较低,可以满足基本的试验需求。特别之处在于显微镜和探针台采用分体结构设计,......
介绍了适应大直径探针台的晶圆自动传输系统及其主要的组成部分——一片盒承载台、关节机械手、预对准装置。应用动力学分析证明R-......
介绍了在二极管探针台测试晶圆过程中一种晶圆自动对准方法。在承片台上放置晶圆后,首先利用一次模板匹配实现对晶圆偏转角度的调......
研究电感特性随磁场变化的响应机制具有很重要的应用价值及研究意义。该文主要基于原有矢量网络分析仪和探针台,对薄膜电感测试系......
为了保证探针台的芯片检测效率和精度,需要提高探针台晶圆定位精度。因此,提出一种基于机器视觉的探针台晶圆偏移角度检测方法。通......
<正>1概述在集成电路产业链中,集成电路测试是惟一一个贯穿集成电路生产和应用全过程的产业。如果集成电路设计没有通过原型的验证......
晶圆片测试是指对于晶圆片上的每一个芯片进行逐个测试。这种测试是在晶圆经过复杂的涂胶、光刻、参杂等过程生产出成品的芯片后的......
探针台是一种晶圆探针测试设备,探针测试在半导体器件制造流程具有重要的地位,通过探针测试,可及时发现晶圆中性能异常的晶粒,减少......
讨论了ICT测试中的脱机打点及其使用现状,介绍了一种基于C和C++ Builder实现的脱机打点方案,并对方案中各关键部分的实现流程进行......
晶圆测试是半导体制造的一道重要工序,而探针台是晶圆测试的核心装备,其研究与开发受到越来越多的重视,其中探针台Z向距离测量是保......
随着集成电路的快速发展,对测量其上的半导体器件各种参数要求越来越高,其中电压和电阻是主要的测量对象。目前探针测试仪采用多探......
无论体积自动探针台与测试系统组合进行芯片自动测试时，都存在与测试系统电气连接的问题，也就是接口问题。通过对其之间信号的选配、......
探针台希望在上片后无需人工对准,就能从晶圆的第一个晶粒（第一点）开始检测,然而晶圆上片后,探针下方的开始位置往往并不是第一点;为......
<正> 随着通信工业的迅速发展,需要对手机、个人通信服务(PCS)等IC进行测量。Cascade Microtech公司的PS21-RF自动探针测试仪是第......
期刊
针对在高密度封装的微波模块中MMIC芯片性能测试不精确导致故障定位不准确的修理需求,借助探针台开展了GaAs驱动放大芯片、GaAs低......
探针台因其检测对象易受电磁噪声干扰。因此如何有效抑制探针台外部电磁干扰非常重要。以探针台的屏蔽箱体作为研究对象，利用基于有......
