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已有的路径优化算法在MCM基板互连测试中已经发挥了一定的作用，但由于MCM的高密互连特性，使得测试变得更加复杂和困难，因此人们希望能......
<正> 介绍随着集成电路的规模越来越大,系统越来越复杂,输入与输出的压点数目将达到少则|,多则几佰个。由此,硅片上芯片的探针测试......
本文针对电阻率测量中广为应用的四点共线探针测量电路,进行了原理及结构分析,给出了恒流源电路设计。同时,说明在高阻测量过程中,......
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