测试生成器相关论文
提出一种基于确定性完备测试集的数字集成电路多加权集随机测试生成方法 .通过引入搜索与迭代算法 ,将完备测试集分成若干测试子集......
文章提出了一种在不损失固定型故障覆盖率的前提下降低测试功耗的BIST测试生成器设计方案,该方案在原始线性反馈移位寄存器的基础......
测试生成器TPG（Tesl Panern Generation）的构造是BIST（Built—In Self-Test）测试策略的重要组成部分。文章结合加权伪随机测试原理及低......
为降低内建自测试电路中的功耗，在分析内建自测试低功耗设计一般方法的基础上，从提高测试向量之间相关性的角度出发，提出了一种在不损......
内建自测试（BIST）是一种有效降低测试开销的技术，在瞬态电流测试中得到了应用。本文给出了一种新型的瞬态电流测试BIST测试生成器设计......
本文提出了一种基于折叠集的test—per—clock结构的混合模式BIST设计方案，并且进行了低功耗的整体优化设计。该设计方案在电路结构......
针对一种基于折叠集的test-per-clock结构的混合模式BIST进行了低功耗优化设计。该设计方案针对伪随机测试序列与折叠测试序列采用......
本论文提出了具有邻域子空间电路模块的基于累加器测试的低功耗测试方法。该方法将测试矢量进行伪格雷码编码以降低电路的开关活动......
