深度分辨率相关论文
飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）和脉冲射频辉光放电发射光谱（Pulsed-RF-GDOES）是两种重要的深度剖析技术，前者广泛应用于半导体工业的......
背散射分析是一种定量的、对重元素敏感的离子束分析技术，用于分析固体材料的近表面区域．简述了背散射分析的基本原理、实验装置及具......
脉冲-射频辉光放电发射光谱(GDOES)深度剖析是一种基于辉光放电原理的原子光谱技术,广泛应用于薄膜材料与功能多层膜结构中成分随......
研究了90°临面入射体全息成像系统的三维成像特性。体全息光栅由球面信号光波和平面参考光波干涉记录，并以原信号光作为探测光波进......
作为一种高灵敏度且具有定量测量能力的功能分子影像技术,小动物PET越来越广泛地用于各种生物医学研究,例如疾病动物模型研究、新......
本文扼要地评述了俄歇电子能谱定量分析的最新进展及其存在问题。首先评述了第一原理模型的俄歇电子能谱的物理基础,并分别对其中......
本文首先通过脉冲射频辉光放电发射光谱定量表征了自然生长在Si(111)基片上约1nm的SiO2膜,表明射频辉光放电发射光谱具有纳米级别......
体全息成像技术是采用体全息光栅作为高性能成像元件(体全息透镜)对物体实现三维成像的技术。基于体全息原理，采用探测光波照明三维......
尽管已经出现了多种工具和概念，但超浅结（USJ）的分析仍然是一个需要解决且无法避免的问题。“在测量方法学上，要夺得这一圣杯，你需要绘......
通过研究不同放电条件下镀锡钢板的光谱行为，确定了具有较好深度分辨率的放电条件，建立了镀锡钢板的辉光放电发射光谱定量深度分析方......
文中采用了两种方法评价邻面入射体全息光栅的分辨率.一、通过数值仿真计算体全息成像系统的归一化的强度点扩散函数,得到总光强的......
传统的成像技术是将一个三维物体成像到一个二维平面上，离焦情况会使成像变得模糊，导致物体成像后其三维信息被丢失，体全息成像系统是......
正电子发射断层扫描（PET）是一种常用的功能分子影像技术,用于多种重大疾病的早期诊断,同时改善PET成像系统的空间分辨率和效率需要使......
利用磁张量进行反演比直接利用磁场数据反演能够得到更加精细的结果,针对位场数据反演中存在的＂趋肤现象＂,在进行磁张量反演时,通过......
本文对溅射深度剖析定量分析中广泛应用的MRI模型及其应用作了一个综述。MRI模型考虑了在深度剖析实验中,引起真实元素成分深度分......
水面水下目标分辨是水声探测目前亟需解决的难题之一.匹配场方法将水声传播机理应用于阵列信号处理中,可以在浅海环境下实现水面水......
上个月份,我们给出了一些如何运用表面分析技术解决生产过程中遇到的问题的方法。但如果需要分析的材料是集中在一小块区域上的,有......
依据体全息光栅的布拉格选择性，以体全息光栅作为成像透镜的体全息成像系统可以对三维物体实现层析成像。本文通过分析探测点光源在......
利用2.0—2.5MeV He的弹性反冲探测方法,测量了二氧化硅和氮化硅膜层中的氢分布,并给出氢含量与淀积工艺条件的关系.讨论了在给定......
溅射深度剖析技术已广泛应用于薄膜材料与功能多层膜结构中成分深度分布的表征，但由于其涉及复杂的溅射过程，样品形貌的多样性，探测信......
组分元素和杂质在多层薄膜样品中深度分布的ＳＩＭＳ剖析结果总是偏离其真实的分布情况，这是由一次离子溅射样品时的物理过程以及溅射坑底的......
