硬件开销相关论文
如今，半导体工艺已经进入7nm时代，半导体工艺的继续提升正变得举步维艰，体系结构的发展也同样面临很多困难。为了突破传统微处理器体......
在交迭测试体系［１，２］ 的基础上提出了一种利用二选一开关辅助扫描寄存器的排序、能够实现最小测试应用时间的单扫描链的构造方法，给出了......
为了降低中等规模的片上网络设计复杂度,提高网络效率,提出了一种基于偏折路由的双环片上网络结构,研究了其冲突解决机制,给出了一......
同时多线程处理器（SMT）每个周期能够从多个线程中发射指令执行，从而大大地提高了超标量微处理器的指令吞吐量，但多个线程的同时执行也......
文章提出一种统一延时测试架构,通过重用在线延时故障检测设计资源实现离线延时检测;首先,提出了一种硬件开销较小的稳定性检测器,......
随着3D堆叠技术的不断发展，芯片测试已成为一大研究热点。为了减少三维堆叠集成电路（three dimensional stacked integrated circuit......
按IEC 61850-9-2 LE要求,数字化测量装置主要采用80′fr的固定采样率,在非同步采样下进行谐波分析,容易引起频谱泄漏。准同步算法......
语音电路在电子钟报时、计算器报数、公交语音报站等方面有很广泛的应用，有的芯片是录播的，硬件开销较大，有的语音合成芯片只能播报固......
在内建自测试中，针对随机向量测试，本文提出了一种通过输出信号分组压缩来减少多输入特征寄存器MISR的硬件开销的方法。该方法是在分......
在分析了经优化后的TETRA语音编解码原理算法的C代码后,根据其算法的复杂度及其所必须的硬件开销,选型TMS320C5402为主处理器,并根......
重新播种的测试方法是一种内建自测试方法,它可以用来提高伪随机测试矢量的故障覆盖率.介绍了三种重新播种的测试方法,它们分别是......
对数字电路日趋提高的可靠性要求和高性能要求，使得人们不仅要保证数字电路逻辑功能的正确性，还要不断提高数字电路的逻辑运算速度。......
近年来Delta-Sigma ADC(Delta-Sigma模数转换器)由于其良好的性能,得到了广泛的应用。其模拟调制器采用了过采样和噪声整形技术,从......
随着集成电路工艺技术的发展,品体管尺寸逐渐减小,互连线的延迟超过了逻辑门的延迟,成为提升系统性能的主要瓶颈,三维集成电路(Thr......
并行测试是系统芯片(System on Chip,简称SOC)测试中最有效的方法之一,其调度算法成为研究的热点。调度算法研究的主要目的是提高......
