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脉冲总剂量损伤相关论文

54HC系列CMOs器件脉冲与稳态γ总剂量效应异同性研究

针对现有脉冲辐射模拟装置在模拟真实环境方面累积剂量偏小的特点,开展了54HC系列CMOS器件脉冲γ与60 Coγ总剂量效应损伤异同性研......

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54HCCMOS 脉冲总剂量损伤效应损伤因子 54HC CMOS pulsed total dose damage effect damage facto

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