论文部分内容阅读
本文提出了一种基于半导体光放大器增益压缩效应的瞬态光脉冲全光波形测量方法。该方法基于半导体光放大器中的交叉增益调制引起的增益压缩，其有结构简单、成本低廉等优点。针对该采样系统结构，结合半导体光放大器噪声模型和PIN高速脉冲响应方程建立了系统模型，并对采样过程进行了相应研究。在分析中还对半导体光放大器自发辐射噪声、PIN温度噪声与采样控制脉冲时域抖动对采样误差的影响进行了研究。仿真结果表明利用该结构可以较为有效地对瞬态光脉冲进行有较高准确度的波形测量。