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随着SoC芯片集成度和复杂度的不断提高，其测试变得越来越复杂，测试成本也越来越高。按照目前的发展趋势，测试成本将有可能超过芯片自身的设计和制造成本，如何降低过高的测试成本也逐渐成为研究的热点。本文基于片外信号源方法提出了一种低成本SoC测试方案，并在自动测试系统T6575上实现。本文的研究方法对同类芯片低成本量产测试具有现实参考意义。