随着科技的发展,新的电子产品的电路板元件安装密度大、管脚密集、可测点少,使传统针床和探头等检测设备很难应用。本文针对数字测试自身的新特点,考虑到现在目前大多数数字电子电路广泛应用的CPLD、FPGA、MCU及DSP等重要器件都已支持边界扫描的基本功能,以及电力电子设备的全面数字化趋势,提出并实现了一种基于虚拟仪器思想的边界扫描测试系统,试图为数字系统测试提供一种通用的有效工具。这种通用的边界扫描测试系统由PC主机、JTAG控制器两部分组成。本文在深入阐述边界扫描测试理论和IEEE 1149.1协议的基础上,讨论了利用PC主机完成测试矢量的生成加载及测试响应的存储分析,从而全面实现扫描链完备性测试、板级互连测试、芯片功能测试和非边界扫描器件的簇测试功能的全过程。提供的软件界面从方便测试者的角度出发,精心策划了整个操作过程。控制器的开发与采用传统专用JTAG主控器模块的方式不同,采用模拟软件利用并口配置下载电缆完成,便于了解数据传输和TAP控制状态的细节过程。本文以USB逻辑分析仪作为一种典型的被测对象,进行了可测性设计的再开发工作,使其具有支持IEEE 1149.1边界扫描功能的设备结构。以这种逻辑分析仪电路的测试为示例,说明了边界扫描测试系统的使用方法和测试过程,给出了一类数字系统边界扫描完整测试过程的示范流程。