目的:观察和分析体检人群中不明原因的角膜后基质层混浊的临床表现及共焦显微镜形态学特征。对象方法:2007年6月至2008年11月在我院行健康体检的人群中,排除角膜接触镜佩戴史及任何眼病史,对裂隙灯显微镜检查发现角膜后基质层散在灰白色、碎屑样混浊的患者进行详细的裂隙灯显微镜下观察,并将观察到的混浊度进行分级;进一步应用共焦显微镜观察角膜各层细胞和纤维层间的形态学改变,详细记录基质层内混浊物质的形态、密度、分布情况以及累及基质层的厚度。分析共焦显微镜下观察到的混浊物质的密度、分布情况及累及基质层厚度之间的关系;分析裂隙灯显微镜下观察到的后基质混浊度与共焦显微镜下观察到的混浊物质分布情况之间的关系。结果:我院行健康体检共27688人中裂隙灯显微镜检查发现角膜后基质层混浊的患者共146人(146/27688;0.53%);裂隙灯显微镜检查观察到角膜后基质层散在灰白色、碎屑样混浊,碎屑样混浊之间角膜透明,前中基质层角膜透明。共焦显微镜检查观察到角膜后基质层内散在高反光的逗点状颗粒,其颗粒平均大小为3.24±1.66μm;内皮细胞层、前中基质层、上皮层未见明显异常。其中70.00%眼共焦显微镜下高反光颗粒散在分布于基质细胞外的层间,颗粒的平均密度为24.16±18.73粒/张,累及基质层的平均厚度为11.21±8.16μm,其高反光颗粒密度与累及的基质层厚度呈直线相关(R=0.86,P＜0.01);30.00%眼高反光颗粒除分布于基质细胞外还聚集于显影的基质细胞的胞浆内,累及的细胞平均2.41±1.28个,累及基质层的平均厚度为19.70±10.64μm,其高反光颗粒密度与累及的基质层厚度呈直线相关(R=0.843,P＜0.01)。高反光颗粒累及细胞内外的共焦表现组与高反光颗粒仅累及细胞外的共焦表现组比较,前者较后者累及的基质层厚,且其差异具有明显统计学意义(P＜0.01)。随着裂隙灯显微镜下观察到的后基质混浊度的加深,共焦显微镜下高反光颗粒在基质细胞内聚集增多,基质细胞肿胀越明显。裂隙灯显微镜下观察到的混浊程度与共焦显微镜下高反光颗粒累及基质厚度呈正相关(R=0.709,P＜0.01)。结论:本研究首次发现在人群中存在不明原因的角膜后基质混浊的个体,发病率为0.53%。随着裂隙灯显微镜下观察到的后基质混浊度的加重,共焦显微镜下观察到高反光颗粒在基质细胞内聚集增多,基质细胞肿胀越明显,高反光颗粒累及基质层越厚。共焦显微镜检查有助于评估不明原因角膜后基质混浊的累及层面、严重程度及形态特征。