石墨表面单层和双层红荧烯薄膜空穴声子耦合结构的比较研究

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【摘要】

：

本课题的研究主题是双层红荧烯薄膜的空穴声子耦合结构,耦合结构通过分析紫外光电子能谱(UPS)得出。UPS测量采用He*光源照射真空沉积于石墨基板的红荧烯薄膜,测量过程中逐渐增加红荧烯薄膜的厚度,测得不同厚度的紫外光电子能谱(UPS)和亚稳态原子电子谱(MAES),并调整出射光电子的检测角度,测得角分辨紫外光电子能谱(ARUPS),将不同角度的ARUPS叠加得到角度叠加谱,对角度叠加谱采用基于耦合模

【作者】

：

贺阳

【机构】

：

苏州大学

【发表日期】

：

2016年01期

【关键词】

：

红荧烯紫外光电子能谱石墨空穴声子耦合重组能

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