针对微电子集成电路的可靠性电性能试验,本文提出一种基于FPGA实现用于集成电路老化测试实验的设计解决方案。通过对集成电路可靠性保障实验流程的不断实践,总结老化及测试项目存在的问题与不足,针对这些问题,结合目前实验所用的设备,进行需求分析,提出将测试老化设备集成化的解决方案。利用FPGA优秀的实时控制能力和数据采集能力,以ALTERA公司生产的FPGA芯片cyclone系列4代EP4CE6F22C8N为基础,设计完成集成了老化和测试功能的实验板,以验证了解决方案的可行性。论文的主要研究工作如下:(1)集成电路可靠性保障实验流程中老化及测试项目的研究。调研实验所需环境、所用设备、操作步骤等。(2)总结当前存在的不足,针对当前存在的问题,提出基于FPGA的解决方案。(3)研究利用FPGA建立工程的设计流程和设计方法。(4)以FPGA芯片为控制核心,通过不断试验探索,制作了集成电路老化测试电路板。在单块电路板上,实现可控的加电压功能、电压测试功能、电流测试功能、测试通道切换功能、指令接收与数据发送功能。(5)运用硬件描述语言Verilog HDL编写代码程序。利用Modelsim仿真软件验证代码的正确性。设计与硬件电路板相匹配的功能模块,为扩展到其他应用领域提供基础。