该论文结合科研项目,以电导数测试技术和热阻测量技术为基础,针对多种半导体激光器首次研制了"半导体激光器可靠性检测分析仪"(国家八五"863"项目)"半导体激光器快速筛选仪"(国家九五"863"项目)、"大功率短波长半导体激光器可靠性检测仪(已提供给电子部44所)、"高功率半导体激光器检测老化台"(已提供给长春光机学院高功率半导体激光器国防重点实验室)等测试设备.作者还从以下方面对半导体激光器可靠性进行了研究:1.分析了电导参数、曲线与器件等效电路参数的关系;2.分别对长波长1.3um、可见光670nm、大功率808nm半导体激光器进行共200余只器件的电导数测试和老化工作,实验结果表明,电导数参数和曲线是检测、分析器件质量和可靠性的有效手段.3.用有限差分法计算和热阻测量研究了大功率808nm半导体激光器的热特性;4.首次探索用人工神经网络建立电导参数和器件寿命的定量关系;5.从器件生产、测试和使用角度提出一些提高器件使用可靠性的手段.